Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction (vol 54, pg 3863, 2006)

被引：1

作者：

Sonnweber-Ribic, Petra

Gruber, Patric

Dehm, Gerhard

Arzt, Eduard

机构：

[1] Max Planck Inst Met Res, D-70569 Stuttgart, Germany

[2] Univ Stuttgart, Inst Phys Met, D-70569 Stuttgart, Germany

[3] Univ Min & Met Leoben, Dept Mat Phys, A-8700 Leoben, Austria

[4] Austrian Acad Sci, Erich Schmid Inst Mat Sci, A-8700 Leoben, Austria

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/j.actamat.2006.10.001

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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