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Tribology and Machine Design Laboratory, Fukui University
被引：0
作者：
Iwai, Y
机构：
关键词：
in situ monitoring;
maintenance;
microtribology;
MMC;
walking;
particle counter;
kelvin probe;
D O I：
暂无
中图分类号：
TH [机械、仪表工业];
学科分类号：
0802 ;
摘要：
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页码：223 / 223
页数：1
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