未找到相关数据
Huygens' methods for determining optical parameters in birefringence
被引：4
作者：
Buchwald, Jed Z.
[1
]
机构：
[1] CALTECH, Pasadena, CA 91125 USA
关键词：
Refraction;
Huygens;
Refraction Angle;
Vertical Edge;
Interfacial Angle;
D O I：
10.1007/s00407-006-0115-7
中图分类号：
N09 [自然科学史];
B [哲学、宗教];
学科分类号：
01 ;
0101 ;
010108 ;
060207 ;
060305 ;
0712 ;
摘要：
[No abstract available]
引用
收藏
页码：67 / 81
页数：15
相关论文
未找到相关数据