Huygens' methods for determining optical parameters in birefringence

被引：4
作者：
Buchwald, Jed Z. [1 ]
机构：
[1] CALTECH, Pasadena, CA 91125 USA
来源：
ARCHIVE FOR HISTORY OF EXACT SCIENCES | 2007年 / 61卷 / 01期
关键词：
Refraction; Huygens; Refraction Angle; Vertical Edge; Interfacial Angle;
D O I：
10.1007/s00407-006-0115-7
中图分类号：
N09 [自然科学史]; B [哲学、宗教];
学科分类号：
01 ; 0101 ; 010108 ; 060207 ; 060305 ; 0712 ;
摘要：
[No abstract available]
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