Promoting Standards in Quantitative Atom Probe Tomography Analysis

被引：2

作者：

Ulfig, R. M. ^{[1
]}

Kelly, T. F. ^{[1
]}

Gault, B. ^{[2
]}

机构：

[1] Imago Sci Instruments Corp, Madison, WI 53711 USA

[2] Univ Sydney, Australian Key Ctr Microscopy & Microanal, Sydney, NSW 2006, Australia

来源：

关键词：

D O I：

10.1017/S143192760909881X

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：260 / 261

页数：2

共 4 条

Fukuzawa, Hideaki ;

Yuasa, Hiromi ;

Iwasaki, Hitoshi .

[2]

Gault B., 2008, ATOM PROBE RECONSTRU

[3] Invited review article: Atom probe tomography [J].

Kelly, Thomas F. ;

Miller, Michael K. .

Moore, J. S. ;

Jones, K. S. ;

Kennel, H. ;

Corcoran, S. .