Application of x-ray and neutron diffraction methods to reliability evaluation of structural components and electronic device

被引：2

作者：

Hayashi, M ^{[1
]}

Okido, S ^{[1
]}

机构：

[1] Hitachi Ltd, Nucl Syst Div, Hitachi, Ibaraki, Japan

来源：

RESIDUAL STRESSES VII, PROCEEDINGS | 2005年 / 490-491卷

关键词：

x-ray; neutron; residual stress; half-value width; fatigue; component; electronic device;

D O I：

10.4028/www.scientific.net/MSF.490-491.19

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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