High-quality NSOM aperture probes made more cheaply

被引：0

作者：

Shenkenberg, David L.

机构：

来源：

PHOTONICS SPECTRA | 2008年 / 42卷 / 05期

关键词：

Optical microscopy;

D O I：

暂无

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

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共 1 条

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SHENKENBERG DL, 2008, APPL PHYS LETT, V92