Scanning tunneling microscopy and spectroscopy study of a model Si/SiO2 interface:: Spherosiloxane clusters on Si(100).

被引：0

作者：

Schneider, KS

Orr, BG

Holl, MMB

机构：

[1] Univ Michigan, Dept Chem, Ann Arbor, MI 48109 USA

[2] Univ Michigan, Dept Phys, Ann Arbor, MI 48109 USA

来源：

ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY | 2001年 / 222卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

1-MTLS

引用

页码：U426 / U426

页数：1