PVD processes: Rutherford backscattering spectrometry

被引：0
作者：
Mattox, DM
机构：
来源：
PLATING AND SURFACE FINISHING | 1996年 / 83卷 / 05期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TF [冶金工业];
学科分类号：
0806 ;
摘要：
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页码：134 / &
页数：2
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共 2 条
  • [1] QUANTITATIVE RUTHERFORD BACKSCATTERING FROM THIN-FILMS
    CHU, WK
    LANGOUCHE, G
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