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Global confidence from identifiability in the Si system
被引：1
作者：
Vollard, A
[1
]
机构：
[1] Sevre, Paris, France
关键词：
Physical Chemistry;
Analytical Chemistry;
Global Confidence;
D O I：
10.1007/s11018-005-0194-x
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
Statement by the director of the International Bureau of Weights and Measures, Professor Andrew Vollard, on World Metrology Day, May 20, 2005
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页码：629 / 631
页数：3
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