Tem structural characterization of NM-scale islands in highly mismatched systems

被引：4

作者：

Ruvimov, S ^{[1
]}

Lilientalweber, Z ^{[1
]}

Ledentsov, NN ^{[1
]}

Grundmann, M ^{[1
]}

Bimberg, D ^{[1
]}

Ustinov, VM ^{[1
]}

Egorov, AY ^{[1
]}

Kopev, PS ^{[1
]}

Alferov, ZI ^{[1
]}

Scheerschmidt, K ^{[1
]}

Gosele, U ^{[1
]}

机构：

[1] LAWRENCE BERKELEY LAB,BERKELEY,CA 94720

来源：

COMPOUND SEMICONDUCTOR ELECTRONICS AND PHOTONICS | 1996年 / 421卷

关键词：

D O I：

10.1557/PROC-421-383

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：383 / 388

页数：6