On-Load Tap Changer Diagnosis-An Off-Line Method for Detecting Degradation and Defects: Part 2

被引：6

作者：

Erbrink, Jur J. ^{[1
]}

Gulski, Edward ^{[1
]}

Smit, Johan J. ^{[1
]}

Leich, Rory

Quak, Ben

Malewski, Ryszard A.

机构：

[1] Delft Univ Technol, NL-2600 AA Delft, Netherlands

来源：

关键词：

contact resistance; contact; dynamic response; power transformer; resistance measurement; CONTACT RESISTANCE;

D O I：

10.1109/MEI.2011.6059982

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：10