Functional Connectivity during Frustration is Predictive of Irritability in Youth

被引：0

作者：

Tseng, Wan-Ling ^{[1
]}

Scheinost, Dustin ^{[2
]}

Pine, Daniel S. ^{[3
]}

Brotman, Melissa A. ^{[3
]}

Leibenluft, Ellen ^{[3
]}

机构：

[1] Yale Sch Med, Yale Child Study Ctr, New Haven, CT USA

[2] Yale Sch Med, New Haven, CT USA

[3] NIMH, NIH, Bethesda, MD 20892 USA

来源：

关键词：

Irritability; Frustration; Brain Imaging; fMRI; Functional Connectivity; Prediction;

D O I：

暂无

中图分类号：

Q189 [神经科学];

学科分类号：

071006 ;

摘要：

引用

页码：S108 / S108

页数：1