Are we done yet? Our Journey to Fight against Memory-safety Bugs

被引：0

作者：

Kim, Taesoo ^{[1
,2
]}

机构：

[1] Georgia Inst Technol, Atlanta, GA 30332 USA

[2] Samsung Res, Yongin, South Korea

来源：

CCS '21: PROCEEDINGS OF THE 2021 ACM SIGSAC CONFERENCE ON COMPUTER AND COMMUNICATIONS SECURITY | 2021年

关键词：

Memory-safety bugs; Exploitation; Fuzzing; Rust;

D O I：

10.1145/3460120.3482788

中图分类号：

TP [自动化技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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