The location of o- and m-xylene in silicalite by powder x-ray diffraction (vol 104B, pg 8986, 2000)

被引：2
作者：
Nair, S
Tsapatsis, M
机构：
来源：
JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY B | 2001年 / 105卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1021/jp003504s
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ; 081704 ;
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共 1 条
[1]   The location of o- and m-xylene in silicalite by powder X-ray diffraction [J].
Nair, S ;
Tsapatsis, M .
JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY B, 2000, 104 (38) :8982-8988
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