High-pressure X-ray Diffraction Study of SrSi2O2N2: Eu2+

被引：0

作者：

Ermakova, O. ^{[1
,2
]}

Paszkowicz, W. ^{[1
]}

Kaminska, A. ^{[1
]}

Barzewska, J. ^{[3
]}

Szczodrowski, K. ^{[3
]}

Grinberg, M. ^{[3
]}

Nowakowska, M. ^{[1
]}

Minikayev, R. ^{[1
]}

Liu, R. ^{[4
]}

Suchocki, A. ^{[1
]}

机构：

[1] PAS, Inst Phys, Warsaw, Poland

[2] RAS, Inst Solid State Chem, Ekaterinburg, Russia

[3] Univ Gdansk, Inst Expt Phys, Gdansk, Poland

[4] Natl Taiwan Univ, Dept Chem, Taipei, Taiwan

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2014年 / 70卷

关键词：

SrSi2O2N2:Eu2+; high pressure; bulk modulus;

D O I：

10.1107/S2053273314092389

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

MS49.P06

引用

页码：C761 / C761

页数：1