A new laser system for X-rays flashes sensitivity evaluation

被引：1

作者：

Lewis, D ^{[1
]}

Lapuyade, H ^{[1
]}

Deval, Y ^{[1
]}

Maidon, Y ^{[1
]}

Darracq, F ^{[1
]}

Briand, R ^{[1
]}

Fouillat, P ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Bordeaux 1, IXL, F-33405 Talence, France

来源：

SEVENTH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING WORKSHOP, PROCEEDINGS | 2001年

关键词：

D O I：

10.1109/OLT.2001.937829

中图分类号：

TP [自动化技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

This paper describes a new methodology using an optical laser bench for ICs X-rays-flashes sensitivity evaluation. Application to the study of one hardening technique of a BandGap Reference circuit is presented.

引用

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