Measurement of the chemical adhesion of thin films using the method of contact mechanics.

被引：0

作者：

Chaudhury, MK ^{[1
]}

机构：

[1] Lehigh Univ, Dept Chem Engn, Bethlehem, PA 18015 USA

来源：

ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY | 1998年 / 216卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

075-PHYS

引用

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页数：1