Modeling X-ray diffractomerers using ray tracing and parallel coprocessors

被引：0

作者：

Bokhimi, X. ^{[1
]}

Gonzalez, C. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Fis, Mexico City, DF, Mexico

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2014年 / 70卷

关键词：

ray tracing; X-ray diffractometer; Rietveld;

D O I：

10.1107/S2053273314089219

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

MS72.O03

引用

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页数：1