Modeling X-ray diffractomerers using ray tracing and parallel coprocessors

被引:0
作者
Bokhimi, X. [1 ]
Gonzalez, C. [1 ]
机构
[1] Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Fis, Mexico City, DF, Mexico
来源
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2014年 / 70卷
关键词
ray tracing; X-ray diffractometer; Rietveld;
D O I
10.1107/S2053273314089219
中图分类号
O6 [化学];
学科分类号
0703 ;
摘要
MS72.O03
引用
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页码:C1078 / C1078
页数:1
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