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Modeling X-ray diffractomerers using ray tracing and parallel coprocessors
被引:0
作者
:
Bokhimi, X.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Fis, Mexico City, DF, Mexico
Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Fis, Mexico City, DF, Mexico
Bokhimi, X.
[
1
]
Gonzalez, C.
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机构:
Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Fis, Mexico City, DF, Mexico
Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Fis, Mexico City, DF, Mexico
Gonzalez, C.
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1
]
机构
:
[1]
Univ Nacl Autonoma Mexico, Inst Fis, Mexico City, DF, Mexico
来源
:
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES
|
2014年
/ 70卷
关键词
:
ray tracing;
X-ray diffractometer;
Rietveld;
D O I
:
10.1107/S2053273314089219
中图分类号
:
O6 [化学];
学科分类号
:
0703 ;
摘要
:
MS72.O03
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页码:C1078 / C1078
页数:1
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