Commentary: Inference in simple step-stress models

被引：16

作者：

Watkins, AJ ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Wales, EBMS, Swansea SA2 8PP, W Glam, Wales

来源：

关键词：

accelerated life testing; exponential distribution; lack of memory; step-stress; type-II censoring;

D O I：

10.1109/24.935014

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：36 / 37

页数：2

相关论文

共 3 条

[1] OPTIMUM SIMPLE STEP-STRESS ACCELERATED LIFE TESTS WITH CENSORING [J].

BAI, DS ;

KIM, MS ;

LEE, SH .

[2] OPTIMUM SIMPLE STEP-STRESS PLANS FOR ACCELERATED LIFE TESTING [J].

MILLER, R ;

NELSON, W .

Xiong, CJ .