FEMTOSECOND SOFT X-RAY LASER BY TEMPORAL IONIZATION GATING

被引：0

作者：

Sebban, S. ^{[1
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Depresseux, A. ^{[1
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Gautier, J. ^{[1
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Tissandier, F. ^{[1
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Lifschitz, A. ^{[1
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Kim, H. T. ^{[1
,4
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Zeitoun, P. ^{[1
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Maynard, E. Oliva abd G. ^{[2
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Nejdl, J. ^{[3
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Kozlova, M. ^{[3
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Kim, H. T. ^{[1
,4
]}

Jacquemot, S. ^{[5
]}

机构：

[1] Ecole Polytech, CNRS, Lab Opt Appl, ENSTA ParisTech,UMR 7639, Palaiseau, France

[2] Univ Paris 11, CNRS, Lab Phys Gaz & Plasmas, F-91405 Orsay, France

[3] ASCR, Inst Phys, ELI Beamlines Project, Prague 18221 8, Czech Republic

[4] GIST, Adv Photon Res Inst, Gwangju 500712, South Korea

[5] UPMC, CEA, Ecole Polytech, Lab Utilisat Lasers Intenses, F-91128 Palaiseau, France

来源：

2015 42ND IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON PLASMA SCIENCES (ICOPS) | 2015年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O35 [流体力学]; O53 [等离子体物理学];

学科分类号：

070204 ; 080103 ; 080704 ;

摘要：

引用

页数：1