Energy-filtered TEM with the integrated imaging filter

被引：0

作者：

Nadarzinski, K ^{[1
]}

de Jong, AF ^{[1
]}

Kundmann, MK ^{[1
]}

Kothleitner, G ^{[1
]}

机构：

[1] Philips Electron Opt BV, NL-5600 MD Eindhoven, Netherlands

来源：

ELECTRON MICROSCOPY 1998, VOL 1: GENERAL INTEREST AND INSTRUMENTATION | 1998年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：243 / 244

页数：2