Nonlinear XUV-optical transient grating spectroscopy at the Si L2,3-edge (vol 114, 181101, 2019)

被引：0

作者：

Bohinc, R. ^{[1
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Pamfilidis, G. ^{[1
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Rehault, J. ^{[1
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Radi, P. ^{[1
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Milne, C. ^{[1
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Szlachetko, J. ^{[2
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Bencivenga, F. ^{[3
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Capotondi, F. ^{[3
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Cucini, R. ^{[4
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Foglia, L. ^{[3
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Masciovecchio, C. ^{[3
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Mincigrucci, R. ^{[3
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Pedersoli, E. ^{[3
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Simoncig, A. ^{[3
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Mahne, N. ^{[5
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Cannizzo, A. ^{[6
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Frey, H. M. ^{[6
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Ollmann, Z. ^{[6
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Feurer, T. ^{[6
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Maznev, A. A. ^{[7
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Nelson, K. ^{[7
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Knopp, G. ^{[1
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机构：

[1] Paul Scherrer Inst PSI, CH-5232 Villigen, Switzerland

[2] Polish Acad Sci, Inst Nucl Phys, PL-31342 Krakow, Poland

[3] Elettra Sincrotrone Trieste SCpA, SS 14 Km 163,5 Area Sci Pk, I-34012 Trieste, Italy

[4] Ist Officina Mat CNR, I-34149 Basovizza, TS, Italy

[5] IOM CNR, Str Statale 14km 163-5, I-34149 Trieste, Italy

[6] Univ Bern, Inst Appl Phys, CH-3012 Bern, Switzerland

[7] MIT, Cambridge, MA 02139 USA

来源：

基金：

瑞士国家科学基金会;

关键词：

D O I：

10.1063/5.0061513

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页数：1