A CAD-based approach to failure diagnosis of CMOS LSI's using abnormal Iddq

被引：7

作者：

Sanada, M ^{[1
]}

机构：

[1] NEC CORP LTD,ANAL & EVALUAT TECHNOL CTR,NAKAHARA KU,KAWASAKI,KANAGAWA 211,JAPAN

来源：

14TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/VTEST.1996.510856

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页数：6