Testing of embedded memories - The aggregate

被引：0

作者：

Makki, RZ ^{[1
]}

机构：

[1] Univ N Carolina, ECE Dept, Charlotte, NC 28223 USA

来源：

SEVENTH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS'98), PROCEEDINGS | 1998年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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