Fault Modeling and Characteristics of SRAM-Based FPGAs

被引：0

作者：

Jing, Naifeng ^{[1
]}

Lee, Ju-Yueh

Zhang, Chun

Tong, Jiarong

Mao, Zhigang ^{[1
]}

He, Lei

机构：

[1] Shanghai Jiao Tong Univ, Shanghai, Peoples R China

来源：

FPGA 11: PROCEEDINGS OF THE 2011 ACM/SIGDA INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAYS | 2011年

关键词：

SEU; interconnects; Fault Tolerance; FPGA; Reliability;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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