Reconstructed (881) Si surface structure observed by scanning tunneling microscopy (vol 82, pg 6031, 1997)

被引：0

作者：

Kawamura, T ^{[1
]}

Kojima, S ^{[1
]}

Kanzawa, T ^{[1
]}

机构：

[1] Kokushikan Univ, Dept Elect Engn, Setagaya Ku, Tokyo 1548515, Japan

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1998年 / 84卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1063/1.368070

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

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页数：1

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共 1 条

[1] Reconstructed (881) Si surface structure observed by scanning tunneling microscopy [J].

Kawamura, T ;

Kojima, S ;

Kanzawa, T .

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1997, 82 (12) :6031-6036