Testing systems on a chip

被引：68
作者：
Chandramouli, R [1 ]
Pateras, S [1 ]
机构：
[1] LOGICVIS INC, SYST BIST, SAN JOSE, CA USA
来源：
IEEE SPECTRUM | 1996年 / 33卷 / 11期
关键词：
D O I：
10.1109/6.542274
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
[No abstract available]
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  • [3] Bardell PaulH., 1987, BUILT IN TEST VLSI P
  • [4] BEENKER FPM, 1995, TESTABILITY CONCEPTS
  • [5] BOUWMAN F, 1992, MACRO TESTABILITY RE, P232
  • [6] MAUNDER C, 1993, INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1993 PROCEEDINGS, P21, DOI 10.1109/TEST.1993.470722
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