Ion-track structure and its effects in small size volumes of silicon (vol 49, pg 3022, 2002)

被引：6
作者：
Akkerman, A [1 ]
Barak, J [1 ]
机构：
[1] Soreq Nucl Res Ctr, IL-81800 Yavne, Israel
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 2003年 / 50卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1109/TNS.2003.812456
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
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共 1 条
[1]   Ion-track structure and its effects in small size volumes of silicon [J].
Akkerman, A ;
Barak, J .
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2002, 49 (06) :3022-3031
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