Development of a titanium nitride thin film standard

被引:0
作者
Steel, E [1 ]
Deslattes, R [1 ]
Pedulla, J [1 ]
Lamaze, G [1 ]
Greenberg, R [1 ]
Armstrong, J [1 ]
机构
[1] Natl Inst Stand & Technol, Gaithersburg, MD 20899 USA
来源
ADVANCED INTERCONNECTS AND CONTACT MATERIALS AND PROCESSES FOR FUTURE INTEGRATED CIRCUITS | 1998年 / 514卷
关键词
D O I
10.1557/PROC-514-505
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:505 / 505
页数:1
相关论文
empty
未找到相关数据