Vth-shiftable SRAM Cell TEGs for Direct Measurement for the Immunity of the Threshold Voltage Variability

被引：0

作者：

Yamaguchi, Shogo ^{[1
]}

Imi, Hitoshi ^{[1
]}

Tokumaru, Shogo ^{[1
]}

Kondo, Takahiro ^{[1
]}

Yamamoto, Hiromasa ^{[1
]}

Nakamura, Kazuyuki ^{[1
]}

机构：

[1] Kyushu Inst Technol, Ctr Microelect Syst, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 8208502, Japan

来源：

2017 INTERNATIONAL CONFERENCE OF MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) | 2017年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页数：3