Sensitivity And Quantitativity In Atom Probe Tomography

被引：1

作者：

Danoix, F. ^{[1
,2
]}

Bostel, A. ^{[1
]}

Leitner, H. ^{[2
]}

Jessner, P. ^{[1
]}

Sauvage, X. ^{[1
]}

Goune, M. ^{[3
]}

Danoix, R. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Rouen, Grp Phys Mat, UMR CNRS 6634, F-76801 St Etienne, France

[2] Univ Leoben, Dept Met & Werkstoffprufung, A-8700 Leoben, Austria

[3] ArcelorMittal Maizieres Res SA, F-57280 Voie Romaine, Maizieres Les M, France

来源：

关键词：

D O I：

10.1017/S1431927609098195

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：258 / 259

页数：2