Adding value to design and test through education: What are the challenges?

被引：0

作者：

Carro, L ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Fed Rio Grande Sul, BR-90046900 Porto Alegre, RS, Brazil

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 2005年 / 22卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.2005.77

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页数：2