A quick laboratory X-ray reflectometer for time-resolved observations

被引：0

作者：

Kamezawa, C. ^{[1
,2
]}

Voegeli, W. ^{[1
]}

Hishinuma, W. ^{[2
]}

Arakawa, E. ^{[1
]}

Matsushita, T. ^{[2
]}

Yano, Y. ^{[3
]}

机构：

[1] Tokyo Gakugei Univ, Dept Phys, Tokyo, Japan

[2] KEK, Photon Factory, Tsukuba, Ibaraki, Japan

[3] Kinki Univ, Dept Phys, Osaka, Japan

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2014年 / 70卷

关键词：

X-ray reflectivity; time-resolved;

D O I：

10.1107/S2053273314091153

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

MS56.P04

引用

页码：C884 / C884

页数：1