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Experimental determination of electron inelastic mean free path of components in a magnetic read head
被引:0
作者
:
Xu, X.
论文数:
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0
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0
机构:
Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Xu, X.
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]
Vinh, L.
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Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Vinh, L.
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Risner-Jamtgaard, J.
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机构:
Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Risner-Jamtgaard, J.
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Yaney, D.
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Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
Yaney, D.
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机构
:
[1]
Hitachi Global Storage Technol Inc, San Jose, CA 95193 USA
来源
:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
|
2009年
/ 15卷
关键词
:
D O I
:
10.1017/S1431927609093611
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
[No abstract available]
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页码:326 / 327
页数:2
相关论文
共 3 条
[1]
[Anonymous], 2009, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science
[2]
Egerton R.F., 1996, ELECT ENERGY LOSS SP
[3]
Egerton R. F., 1987, ULTRAMICROSCOPY
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Egerton R.F., 1996, ELECT ENERGY LOSS SP
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Egerton R. F., 1987, ULTRAMICROSCOPY
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