Design Trends and Test Challenges in Automotive Electronics

被引：0

作者：

Wang, Li-C. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Calif Santa Barbara, Santa Barbara, CA 93106 USA

来源：

2014 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON VLSI DESIGN, AUTOMATION AND TEST (VLSI-DAT) | 2014年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TP [自动化技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页数：1