Residual stress analysis in both As-deposited and annealed CrN coatings

被引：2

作者：

Peng, RL ^{[1
]}

Wang, YD ^{[1
]}

Odén, M ^{[1
]}

Almer, J ^{[1
]}

机构：

[1] Uppsala Univ, Studsvik Neutron Res Lab, S-61182 Nykoping, Sweden

来源：

RESIDUAL STRESSES VII, PROCEEDINGS | 2005年 / 490-491卷

关键词：

residual stress; CrN coating; synchrotron radiation; Reuss model; Vook-Witt model; SODF analysis;

D O I：

10.4028/www.scientific.net/MSF.490-491.643

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：643 / 648

页数：6