Introduction to a Special Issue on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy dedicated to Harald Rose on the occasion of his 80th Birthday

被引：0

作者：

Dunin-Borkowski, Rafal E. ^{[1
]}

Mayer, Joachim ^{[2
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Tillmann, Karsten ^{[1
]}

机构：

[1] Julich Res Ctr, Ernst Ruska Ctr, Julich, Germany

[2] Rhein Westfal TH Aachen, Ernst Ruska Ctr, Aachen, Germany

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/j.ultramic.2014.11.006

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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