MAGNETIC DEPTH PROFILES IN STRAINED NICKEL-IRON THIN FILMS MEASURED BY POLARIZED NEUTRON REFLECTOMETRY.

被引：0

作者：

Ott, F. ^{[1
]}

Fermon, C. ^{[1
]}

机构：

[1] CNRS Saclay, CEA, Lab Leon Brillouin, F-91191 Gif Sur Yvette, France

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 1996年 / 52卷

关键词：

D O I：

10.1107/S0108767396080993

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

PS12.01.21

引用

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页数：1