Scanning the special issue on automated biometrics

被引：0

作者：

Shen, WC ^{[1
]}

Khanna, R ^{[1
]}

机构：

[1] MITRETEK SYST,MCLEAN,VA 22102

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1997年 / 85卷 / 09期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1343 / 1346

页数：4

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