未找到相关数据
Submicron characterization of recording media using magnetic force microscopy
被引：0
作者：
Babcock, K
Manalis, S
Elings, V
Dugas, M
Challener, W
机构：
[1] DIGITAL INSTRUMENTS,SANTA BARBARA,CA 93103
[2] ADV RES CORP,MINNEAPOLIS,MN 55414
[3] 3M CO,ST PAUL,MN 55414
关键词：
D O I：
10.1063/1.361965
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：6440 / 6440
页数：1
相关论文