Structure and thermoelectric properties of nano-crystalline Re-x-Si-1-x thin film composites.

被引：2

作者：

Burkov, AT ^{[1
]}

Heinrich, A ^{[1
]}

Gladun, C ^{[1
]}

Pitschke, W ^{[1
]}

Schumann, J ^{[1
]}

机构：

[1] INST SOLID STATE & MAT RES,D-01171 DRESDEN,GERMANY

来源：

PROCEEDINGS ICT '96 - FIFTEENTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON THERMOELECTRICS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/ICT.1996.553532

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：484 / 490

页数：7