X-Ray Scattering and its Benefits for X-Ray Spectrometry at the SEM

被引：0

作者：

Hodoroaba, V. -D. ^{[1
]}

Rackwitz, V. ^{[1
]}

Reuter, D. ^{[1
]}

机构：

[1] BAM Fed Inst Mat Res & Testing, D-12205 Berlin, Germany

来源：

关键词：

D O I：

10.1017/S1431927609094392

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：1122 / 1123

页数：2

共 4 条

[1]

[Anonymous], 2307 BMWI

Hodoroaba, V. -D. ;

Procop, M. .

Procop, Mathias ;

Hodoroaba, Vasile-Dan .

Scholze, Frank ;

Beckhoff, Burkhard ;

Kolbe, Michael ;

Krumrey, Michael ;

Mueller, Matthias ;

Ulm, Gerhard .