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Advanced instrumentation for high resolution transmission cryo-electron microscopy
被引：0
作者：
Armbruster, BL
Kawasaki, M
Kersker, M
O'Donnell, R
Fukushima, K
机构：
[1] JEOL USA Inc, Peabody, MA 01960 USA
[2] JEOL Ltd, Tokyo, Japan
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
Q6 [生物物理学];
学科分类号：
071011 ;
摘要：
2391
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页码：489A / 489A
页数：1
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