Image quality assessment for an investigational megavoltage Cone-Beam CT device

被引：1

作者：

Chen, H.

Simpson, L.

Morin, O.

Pouliot, J.

Sarkar, A.

机构：

[1] Christiana Care Hlth Serv, Newark, DE USA

[2] Univ Calif San Francisco, San Francisco, CA 94143 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1118/1.2240854

中图分类号：

R8 [特种医学]; R445 [影像诊断学];

学科分类号：

1002 ; 100207 ; 1009 ;

摘要：

引用

页码：2038 / 2038

页数：1