Standard Free Thickness Determination of Thin TEM Samples via Backscatter Electron Image Correlation

被引：8
作者：
Salzer, R. [1 ]
Graff, A. [1 ]
Simon, M. [1 ]
Altmann, F. [1 ]
机构：
[1] Fraunhofer Inst Mech Mat, D-06120 Halle, Germany
来源：
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS | 2009年 / 15卷
关键词：
D O I：
10.1017/S1431927609096457
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
[No abstract available]
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页码：340 / 341
页数：2
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共 1 条
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SCANNING, 2007, 29 (03) :92-101
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