Equivalence fault collapsing for transistor leakage faults

被引：0

作者：

Wen, XQ ^{[1
]}

Saluja, KK ^{[1
]}

Kinoshita, K ^{[1
]}

Tamamoto, H ^{[1
]}

机构：

[1] AKITA UNIV,DEPT INFORMAT ENGN,AKITA 010,JAPAN

来源：

1996 IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON IDDQ TESTING, DIGEST OF PAPERS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/IDDQ.1996.557836

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：5