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A 1.8V 1.6GS/s 8b self-calibrating folding ADC with 7.26 ENOB at nyquist frequency
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作者
:
Taft, R
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Natl Semicond GMBH, Furstfeldbruck, Germany
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Taft, R
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Menkus, C
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Natl Semicond GMBH, Furstfeldbruck, Germany
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Tursi, MR
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Hidri, O
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Pons, V
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Natl Semicond GMBH, Furstfeldbruck, Germany
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机构
:
[1]
Natl Semicond GMBH, Furstfeldbruck, Germany
来源
:
2004 IEEE INTERNATIONAL SOLID-STATE CIRCUITS CONFERENCE, DIGEST OF TECHNICAL PAPERS
|
2004年
/ 47卷
关键词
:
D O I
:
10.1109/ISSCC.2004.1332689
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
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相关论文
共 2 条
[1]
KATTMANN K, 1991, IEEE INT SOL STAT CI, P170
[2]
A dual-mode 700-MSamples/s 6-bit 200-MSamples/s 7-bit A/D converter in a 0.25-μm digital CMOS process
[J].
Nagaraj, K
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机构:
Texas Instruments Inc, Warren, NJ 07059 USA
Texas Instruments Inc, Warren, NJ 07059 USA
Nagaraj, K
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Martin, DA
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Wolfe, M
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Texas Instruments Inc, Warren, NJ 07059 USA
Pavan, S
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Cancio, J
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Cancio, J
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Viswanathan, TR
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Viswanathan, TR
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IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,
2000,
35
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[1]
KATTMANN K, 1991, IEEE INT SOL STAT CI, P170
[2]
A dual-mode 700-MSamples/s 6-bit 200-MSamples/s 7-bit A/D converter in a 0.25-μm digital CMOS process
[J].
Nagaraj, K
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Texas Instruments Inc, Warren, NJ 07059 USA
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Nagaraj, K
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Martin, DA
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Martin, DA
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Wolfe, M
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Pavan, S
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Cancio, J
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Cancio, J
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Viswanathan, TR
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0
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0
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Texas Instruments Inc, Warren, NJ 07059 USA
Viswanathan, TR
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2000,
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