RETRACTION: Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology (Retraction of Vol 2013, art no 158792, 2013)

被引：0
作者：
不详
机构：
来源：
INTERNATIONAL JOURNAL OF PHOTOENERGY | 2018年 / 2018卷
关键词：
D O I：
10.1155/2018/9315054
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ; 081704 ;
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共 1 条
[1]   RETRACTED: Radiation Hardness of Flash Memory Fabricated in Deep-Submicron Technology (Retracted Article) [J].
Cavric, Bojan ;
Dolicanin, Edin ;
Petronijevic, Predrag ;
Pejovic, Milic ;
Stankovic, Koviljka .
INTERNATIONAL JOURNAL OF PHOTOENERGY, 2013, 2013
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