Digital Holographic Microscopy (DHM):: Fast and robust 3D measurements with interferometric resolution for industrial inspection

被引：2

作者：

Emery, Y ^{[1
]}

Cuche, E

Marquet, F

Bourquin, S

Marquet, P

Kühn, J

Aspert, N

Botkin, M

Depeursinge, C

机构：

[1] Lyncee Tec SA, Rua Bugnon 7, CH-1005 Lausanne, Switzerland

[2] Ecole Polytech Fed Lausanne, STI IOA, CH-1015 Lausanne, Switzerland

来源：

FRINGE 2005 | 2006年

关键词：

D O I：

10.1007/3-540-29303-5_90

中图分类号：

TP39 [计算机的应用];

学科分类号：

081203 ; 0835 ;

摘要：

引用

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